概述:FPGA器件辐射效应测试系统能够适应不同的类型的FPGA器件的辐射效应试验，通过在线测试向量切换能力，动态适配各种场景下FPGA器件的单粒子翻转效应、单粒子闩锁效应、单粒子功能中断效应等测试和评估，能够通过总线速率适配调节满足高速、长线、真空等各种恶劣条件下的测试应用。