QST2300采用嵌入式屏幕组件,系统搭建简便快捷,能够提供高电压范围高性能半导体参数精密测试,配合多点触摸操作图形软件,快速测试提取器件性能参数,助力新型半导体材料、器件和工艺开发。
QST2300包括AccurateTest 软件,可以执行各种类型的IV、CV 和Pulsed I-V 表征测试。其用户界面提供了多点触摸控制功能,能够进行全生命流程的器件管理,支持预置测试模型和自定义测试模型,为宽禁带半导体材料、器件表征提供了快速、灵活的参数测试和分析功能。
10点触控,流畅交互
器件追溯,一键录入
MOSFET、功率器件等
扩展灵活,用例开放
Vth, Rdson, C 等
英特尔®酷睿™ i5
英特尔®酷睿™ i5
15.6" 10点触摸
15个PXIe插槽(5槽位可选)
11×USB(1×Type-C)
2×2.5G以太网
2×RS232/422
内置高压SMU(0/1000V/3000V可选)
2000W脉冲功率(±40V,±50A)
200W直流(±10V@20A等)
1pA分辨率
最小脉宽100μs
占空比1%~100%
±3000V/10mA
0.03%基本精度
10fA电流分辨率
2μV电压分辨率
四象限工作
2/4线连接
±200V/100mA (±20V/1A, 脉冲±3A)
10fA分辨率(可扩展0.1fA)
准静态电容测量
最小脉宽10μs
四象限, 2/4线
±60V/330mA (±6.6V/3A, 脉冲±10A)
100fA分辨率
准静态电容测量
四象限, 2/4线
2通道, 800MSPS, 1.25ns分辨率
20MHz带宽, 16位
电压范围: 12Vpp@50Ω
Cs, Ls, R, Z, Cp, D, Q ...
10Hz ~ 10MHz
基本精度0.05%
电容100fF~100mF
偏压±30V
扩展QST2301/2311分辨率至0.1fA
最大电压200V
为CMU提供CV测试能力
Ciss, Coss, Crss, Rg测试电路
偏置高达3000V
低泄漏, USB/IO控制
自动参数录入与调用
一键参数录入
全生命周期追溯
1路高压SMU+4路低压SMU/5路低压SMU
支持1路CMU
内置Ciss/Coss等测试电路
偏置3000V, 低泄漏, 安全锁
可替换夹具
支持5路低压SMU, 1路LCR
内置HCU, ±60V/±2000A脉冲
最小脉宽50μs
QST2316大电流扩展测试盒




陕西夸克自控科技有限公司成立于2007年7月,是一家半导体可靠性测试解决方案提供商,公司依靠丰富的测试系统工程经验、半导体测试技术、高压及微弱信号检测技术、真空及辐射效应测试技术、高... 您有什么问题或要求吗?
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