单粒子效应系统

产品介绍：

       单粒子效应系统利用地面装置产生高能粒子轰击被测元器件，模拟空间辐照对半导体器件的单粒子事件，验证器件抗辐射能力，分析器件缺陷，寻找器件薄弱点，为器件鉴定、筛选、加固设计提供数据基础。单粒子效应系统能够支持多种辐照源引起的各种单粒子效应的检测，支持微束扫描精确定位器件薄弱点。

器件类型：

 存储器、模拟电路、光耦、AD/DA、MCU、FPGA 

粒子类型：

  重离子、激光、中子  

效应类型：

  SEL、SET、SEFI、SEU 

测试功能：

 电源电压/电流、接口电平及时序、信号时域/频率波形、内部存储、配置寄存器、内部PLL等