概述:瞬态信号分析仪利用自主研发的高动态电流传感器在高电压偏置条件下实现高达180dB瞬态电流捕获；采用多层高压隔离和屏蔽技术实现远距离微弱电流信号在线测量；简单的接口以及一体化便携设计便于测试系统的快速搭建和样品更换，适合各类Si、SiC、GaN、Ga2O3类晶体管、二极管、MOSFET、SBD、IGBT、HEMT等器件的辐射效应试验、漏电流测试、半导体参数测试

概述:FPGA故障注入系统通过对重点关注的功能电路对应的位流进行修改并注入FPGA系统中，以此模拟辐射效应引起的单位或多位翻转，结合测试系统输出的功能性能判定结果，对FPGA系统的软件加固性能进行快速评估和验证，应用于航天系统地面验证、故障复现、加固算法评估等场合。

概述:FPGA器件辐射效应测试系统能够适应不同的类型的FPGA器件的辐射效应试验，通过在线测试向量切换能力，动态适配各种场景下FPGA器件的单粒子翻转效应、单粒子闩锁效应、单粒子功能中断效应等测试和评估，能够通过总线速率适配调节满足高速、长线、真空等各种恶劣条件下的测试应用。

概述:SRAM器件辐射效应测试套件包含可定制的夹具板、驱动与测试向量、可配置的软件插件，基于QDRP平台实现对通用异步SRAM器件的功能验证、性能测试、单粒子翻转测试、单粒子闩锁测试等，支持自动重写和自定义忽略地址功能，能够快速定制各种封装的夹具板以满足辐射效应测试的要求。

概述:数字电路辐射效应测试平台 (QDRP)主要用于辐射条件下AD、FPGA、存储器及其它数字器件的单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闩锁检测。平台内部集成了多种仪表功能，可直接安装在辐照测试架或测试台上，配合夹具或延长线使用。