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半导体测试系统

Semiconductor test system

半导体测试设备

Semiconductor test equipment

辐射效应试验服务

Radiation effects testing service

元器件及材料销售

Components and materials sales

瞬态信号分析仪

发布日期:2023-02-27 14:55 浏览次数:

材料类型: Si、SiC、GaN、Ga2O3  

器件类型:晶体管、MOSFET、SBD、IGBT等二极、三极器件

瞬态分析间隔:实时刷新10ms,瞬态刷新1us

辐射效应检测:SEB、SEGR、SEL

半导体参数分析:IV、HFE、 Vth、Vbr

耐 压 测 试:Vds、Vgs,0.1V~5000V

漏电流测试: Id、Ig ,100pA~100mA高动态

高 阻 测 试:10Ω~10GΩ


029-88850522