材料类型: Si、SiC、GaN、Ga2O3等
器件类型:晶体管、MOSFET、SBD、IGBT等二极、三极器件
瞬态分析间隔:实时刷新10ms,瞬态刷新1us
辐射效应检测:SEB、SEGR、SEL
半导体参数分析:IV、HFE、 Vth、Vbr
耐 压 测 试:Vds、Vgs,0.1V~5000V
漏电流测试: Id、Ig ,100pA~100mA高动态
高 阻 测 试:10Ω~10GΩ
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