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半导体测试系统

Semiconductor test system

半导体测试设备

Semiconductor test equipment

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高压半导体参数测试仪

发布日期:2023-02-27 15:10 浏览次数:

    高压半导体参数测试仪QST2300是一款全触摸式宽禁带半导体参数测试仪,支持1000V以下各类半导体分立器件的高压IV扫描、脉冲IV扫描、高压CV扫描、静态参数测试、可靠性特性分析等功能。

    设备采用模块化配置,支持高压SMU、低压SMU、高压CV、低压CV等多种组合,最高电压1000V,负载电流±3A,最高电流精度可达10fA,适用于各种半导体器件、LED 材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等参数测试和性能表征。

主要功能:   

     快速IV扫描★ 高压CV扫描 
    ★ 脉冲IV扫描   1/f 噪声测试 
    ★ 电容参数测量   输出特性扫描 
    ★ 耐电压测试   漏电流测试 
    ★ 阈值测试   可靠性测试

技术指标:

    ★ 测量通道:2~4 ★ 高压SMU:±1kV,1Amax
    ★ 高压测量:电压精度0.015%,电流精度0.1%(10fA max)★ 低压SMU:±200V,3Amax 
    ★ 低压测量:电压精度0.02%,电流精度0.06%(10fA max) ★ 高压CVU:1500Vds,±40Vgs,1kHz~2MHz

产品特色:

    ★ 可扩展通道数量 ★ 支持1kV高压IV/CV测试 
    ★ 支持1/f 噪声分析能力 ★ 全周期器件管理及追溯 
    ★ 支持全触摸界面操作和编程操作★ 内置常见器件测试项,帮助快速完成测试 
    ★ 大尺寸触摸屏,操作方便,适合各种场景★ 简单易用的中文操作软件 
    ★ 系统连接简单,便于快速搭建

 

029-88850522