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半导体测试系统

Semiconductor test system

半导体测试设备

Semiconductor test equipment

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FPGA故障注入系统

发布日期:2023-02-27 15:14 浏览次数:

被测对象:FPGACPLD

注入方式:遍历注入、随机注入、资源注入、电路注入

注入接口:JTAG

故障信息:故障分布、故障定位、故障统计、故障复现

翻转位数:单位、多位可设定,概率可调节


029-88850522