深能级瞬态谱测试仪

材料表征：半导体材料、分立器件、压电材料、钙钛矿太阳能电池、薄膜、量子点等

缺陷检测：界面态缺陷、缺陷能级位、陷阱类型、陷阱浓度、俘获截面

半导体参数分析：CV、载流子浓度、势垒高度、理想因子